Full-Band Quantization Analysis Reveals a Third Valley in Silicon Inversion Layers / Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - vol.26, n.6:(2005), pp. 413-415.
Full-Band Quantization Analysis Reveals a Third Valley in Silicon Inversion Layers
ESSENI, David;PALESTRI, Pierpaolo
2005
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
