Adhesion Microscopy as a Nanoscale Probe for Oxidation and Charge Generation at Metal-Oxide Interfaces / Ranjan, A.; Padovani, A.; Dianat, B.; Raghavan, N.; Pey, K. L.; O'Shea, S. J.. - In: ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 2637-6113. - 5:9(2023), pp. 5176-5186. [10.1021/acsaelm.3c00903]
Adhesion Microscopy as a Nanoscale Probe for Oxidation and Charge Generation at Metal-Oxide Interfaces
Padovani A.;Dianat B.;
2023
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