pMOSFETs biased with Vgs

Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFETs / Paccagnella, A.; Ceschia, M.; Verzellesi, G.; Betta Dalla, G. F.; Bellutti, P.; Fuochi, P. G.; Soncini, G.. - (1995), pp. 25-32. (Intervento presentato al convegno Proceedings of the 1995 3rd European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems tenutosi a Arcachon, Fr, nel 1995).

Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFETs

Verzellesi G.;
1995

Abstract

pMOSFETs biased with Vgs
1995
Proceedings of the 1995 3rd European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
Arcachon, Fr,
1995
2-s2.0-0029454885
25
32
Paccagnella, A.; Ceschia, M.; Verzellesi, G.; Betta Dalla, G. F.; Bellutti, P.; Fuochi, P. G.; Soncini, G.
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFETs / Paccagnella, A.; Ceschia, M.; Verzellesi, G.; Betta Dalla, G. F.; Bellutti, P.; Fuochi, P. G.; Soncini, G.. - (1995), pp. 25-32. (Intervento presentato al convegno Proceedings of the 1995 3rd European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems tenutosi a Arcachon, Fr, nel 1995).
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