The Role of Oxide Traps Aligned With the Semiconductor Energy Gap in MOS Systems / Caruso, Enrico; Lin, Jun; Monaghan, Scott; Cherkaoui, Karim; Gity, Farzan; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca; Hurley, Paul K.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 67:10(2020), pp. 4372-4378. [10.1109/TED.2020.3018095]
The Role of Oxide Traps Aligned With the Semiconductor Energy Gap in MOS Systems
Palestri, Pierpaolo;Selmi, Luca;
2020
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