On the Extraction of Oxide Thickness and Sub-Band Energy Shift in Thin Oxide MOS Capacitors with Permeable Gates / DALLA SERRA, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Widdershoven, F.. - (2001), pp. 597-600. (Intervento presentato al convegno ISDRS 2001 tenutosi a Washington, DC nel Dicembre 2001).
On the Extraction of Oxide Thickness and Sub-Band Energy Shift in Thin Oxide MOS Capacitors with Permeable Gates
SELMI, Luca;
2001-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris