On the Extraction of Oxide Thickness and Sub-Band Energy Shift in Thin Oxide MOS Capacitors with Permeable Gates / DALLA SERRA, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Widdershoven, F.. - (2001), pp. 597-600. (Intervento presentato al convegno ISDRS 2001 tenutosi a Washington, DC nel Dicembre 2001).
On the Extraction of Oxide Thickness and Sub-Band Energy Shift in Thin Oxide MOS Capacitors with Permeable Gates
SELMI, Luca;
2001-01-01
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