On the Extraction of Oxide Thickness and Sub-Band Energy Shift in Thin Oxide MOS Capacitors with Permeable Gates / DALLA SERRA, Alberto; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; Widdershoven, F.. - (2001), pp. 597-600. (Intervento presentato al convegno International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS 2001 tenutosi a Washington, DC nel Dicembre 2001) [10.1109/ISDRS.2001.984590].
On the Extraction of Oxide Thickness and Sub-Band Energy Shift in Thin Oxide MOS Capacitors with Permeable Gates
PALESTRI, Pierpaolo;SELMI, Luca;
2001
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