Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements

Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.

doi:10.1109/16.662779

Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808.

Data di pubblicazione:	1998
Titolo:	Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements
Autore/i:	Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.
Autore/i UNIMORE:	SELMI, LUCA MASTRAPASQUA, M BOULIN, D. M BUDE, J PAVESI, M SANGIORGI, E PINTO, M. R. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Digital Object Identifier (DOI):	http://dx.doi.org/10.1109/16.662779
Rivista:	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Volume:	45
Fascicolo:	4
Pagina iniziale:	802
Pagina finale:	808
Codice identificativo ISI:	WOS:000072662800008
Codice identificativo Scopus:	2-s2.0-0001743471
Citazione:	Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808.
Tipologia	Articolo su rivista

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http://hdl.handle.net/11380/1163437

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