Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808.
Data di pubblicazione: | 1998 |
Titolo: | Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements |
Autore/i: | Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R. |
Autore/i UNIMORE: | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/16.662779 |
Rivista: | |
Volume: | 45 |
Fascicolo: | 4 |
Pagina iniziale: | 802 |
Pagina finale: | 808 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000072662800008 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0001743471 |
Citazione: | Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808. |
Tipologia | Articolo su rivista |
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