EnglishVerification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808. [10.1109/16.662779]
| Data di pubblicazione: | 1998 | |
| Titolo: | Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements | |
| Autore/i: | Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R. | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/16.662779 | |
| Rivista: | ||
| Volume: | 45 | |
| Fascicolo: | 4 | |
| Pagina iniziale: | 802 | |
| Pagina finale: | 808 | |
| Codice identificativo ISI: | WOS:000072662800008 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0001743471 | |
| Citazione: | Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808. [10.1109/16.662779] | |
| Tipologia | Articolo su rivista |
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http://hdl.handle.net/11380/1163437
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