Monitoring Hot Carrier Degradation in SOI MOSFETs by Hot Carrier Luminescence Techniques / Selmi, Luca; Pavesi, M; WONG H., S; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:5(1998), pp. 1135-1139.
Monitoring Hot Carrier Degradation in SOI MOSFETs by Hot Carrier Luminescence Techniques
SELMI, Luca;
1998-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
