Monitoring Hot Carrier Degradation in SOI MOSFETs by Hot Carrier Luminescence Techniques / Selmi, Luca; Pavesi, M; WONG H., S; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:5(1998), pp. 1135-1139.
Monitoring Hot Carrier Degradation in SOI MOSFETs by Hot Carrier Luminescence Techniques
SELMI, Luca;
1998-01-01
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