Correlation between Substrate Hot Electron Energy and Homogeneous Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Bez, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 41:9(1994), pp. 1677-1679.
Correlation between Substrate Hot Electron Energy and Homogeneous Degradation in n-MOSFETs
SELMI, Luca;
1994
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
