Hot carrier degradation and damage profiling of cmos devices with biased substrates / Driussi, Francesco; Esseni, David; Piazza, F.; Selmi, Luca. - STAMPA. - n/a:n/a(2000). (Intervento presentato al convegno MEDEA/RESPONSE Workshop Technical Digest tenutosi a Agate Brianza, Italy nel Nov.2000).

Hot carrier degradation and damage profiling of cmos devices with biased substrates

SELMI, Luca
2000
2000
MEDEA/RESPONSE Workshop Technical Digest
Agate Brianza, Italy
Nov.2000
n/a
Driussi, Francesco; Esseni, David; Piazza, F.; Selmi, Luca
Hot carrier degradation and damage profiling of cmos devices with biased substrates / Driussi, Francesco; Esseni, David; Piazza, F.; Selmi, Luca. - STAMPA. - n/a:n/a(2000). (Intervento presentato al convegno MEDEA/RESPONSE Workshop Technical Digest tenutosi a Agate Brianza, Italy nel Nov.2000).
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