Frequency Resolved Measurements for the Characterization of MOSFET Parameters at Low Longitudinal Fields / Selmi, Luca; Ricco, B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 42:2(1995), pp. 315-320.
Frequency Resolved Measurements for the Characterization of MOSFET Parameters at Low Longitudinal Fields
SELMI, Luca;
1995-01-01
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