EnglishQuesto articolo descrive i principali fenomeni fisici in grado di degradare o danneggiare in modo permanente i circuiti integrati, limitandone l'affidabilità. In particolare verranno trattati quei problemi delle tecnologie MOS e BiCMOS che per il loro carattere fondamentale rimarranno di attualità anche nelle future versioni di queste tecnologie. Non verranno trattati, invece, i fenomeni responsabili di errori transitori (soft-errors), quali l'interazione tra dispositivi e radiazione ionizzante nella circuiteria e nelle celle delle memorie RAM dinamiche.
Problematiche di affidabilità / Selmi, Luca. - (1992), pp. 34-53. ((Intervento presentato al convegno Corso di Formazione avanzata "Memorie e Microprocessori" tenutosi a Valenzano, Bari nel 30 giugno - 3 luglio 1992.
| Data di pubblicazione: | 1992 |
| Titolo: | Problematiche di affidabilità |
| Autore/i: | Selmi, Luca |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Nome del convegno: | Corso di Formazione avanzata "Memorie e Microprocessori" |
| Luogo del convegno: | Valenzano, Bari |
| Data del convegno: | 30 giugno - 3 luglio 1992 |
| Pagina iniziale: | 34 |
| Pagina finale: | 53 |
| Citazione: | Problematiche di affidabilità / Selmi, Luca. - (1992), pp. 34-53. ((Intervento presentato al convegno Corso di Formazione avanzata "Memorie e Microprocessori" tenutosi a Valenzano, Bari nel 30 giugno - 3 luglio 1992. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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