Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks / Caruso, E.; Lin, J.; Burke, K. F.; Cherkaoui, K.; Esseni, D.; Gity, F.; Monaghan, S.; Palestri, P.; Hurley, P.; Selmi, L.. - (2018), pp. 153-156. (Intervento presentato al convegno 4th Joint International EuroSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) tenutosi a Granada, SPAIN nel MAR 19-21, 2018) [10.1109/ULIS.2018.8354757].

Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks

Palestri, P.;Selmi, L.
2018
2018
4th Joint International EuroSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS)
Granada, SPAIN
MAR 19-21, 2018
WOS:000576960300039
2-s2.0-85050925279
153
156
Caruso, E.; Lin, J.; Burke, K. F.; Cherkaoui, K.; Esseni, D.; Gity, F.; Monaghan, S.; Palestri, P.; Hurley, P.; Selmi, L.
Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks / Caruso, E.; Lin, J.; Burke, K. F.; Cherkaoui, K.; Esseni, D.; Gity, F.; Monaghan, S.; Palestri, P.; Hurley, P.; Selmi, L.. - (2018), pp. 153-156. (Intervento presentato al convegno 4th Joint International EuroSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) tenutosi a Granada, SPAIN nel MAR 19-21, 2018) [10.1109/ULIS.2018.8354757].
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