Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks / Caruso, E.; Lin, J.; Burke, K. F.; Cherkaoui, K.; Esseni, D.; Gity, F.; Monaghan, S.; Palestri, P.; Hurley, P.; Selmi, L.. - (2018), pp. 153-156. ( 4th Joint International EuroSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) Granada, SPAIN MAR 19-21, 2018) [10.1109/ULIS.2018.8354757].

Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks

Palestri, P.;Selmi, L.
2018
2018
4th Joint International EuroSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS)
Granada, SPAIN
MAR 19-21, 2018
WOS:000576960300039
2-s2.0-85050925279
153
156
Caruso, E.; Lin, J.; Burke, K. F.; Cherkaoui, K.; Esseni, D.; Gity, F.; Monaghan, S.; Palestri, P.; Hurley, P.; Selmi, L.
Profiling border-traps by TCAD analysis of multifrequency CV-curves in Al2O3/InGaAs stacks / Caruso, E.; Lin, J.; Burke, K. F.; Cherkaoui, K.; Esseni, D.; Gity, F.; Monaghan, S.; Palestri, P.; Hurley, P.; Selmi, L.. - (2018), pp. 153-156. ( 4th Joint International EuroSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS) Granada, SPAIN MAR 19-21, 2018) [10.1109/ULIS.2018.8354757].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/1163211
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 4
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact