On the Passivation of Interface States in SONOS Test Structures: Impact of Device Layout and Annealing Process / Driussi, Francesco; Selmi, Luca; Akil, N.; VAN DUUREN, M. J.; VAN SCHAIJK, R.. - (2006), pp. 51-55. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) tenutosi a Austin (USA) nel marzo) [10.1109/ICMTS.2006.1614274].

On the Passivation of Interface States in SONOS Test Structures: Impact of Device Layout and Annealing Process

SELMI, Luca;
2006
2006
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
Austin (USA)
marzo
WOS:000237219700010
2-s2.0-33749535444
51
55
Driussi, Francesco; Selmi, Luca; Akil, N.; VAN DUUREN, M. J.; VAN SCHAIJK, R.
On the Passivation of Interface States in SONOS Test Structures: Impact of Device Layout and Annealing Process / Driussi, Francesco; Selmi, Luca; Akil, N.; VAN DUUREN, M. J.; VAN SCHAIJK, R.. - (2006), pp. 51-55. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) tenutosi a Austin (USA) nel marzo) [10.1109/ICMTS.2006.1614274].
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