Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories / Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J.. - STAMPA. - (2007), pp. 406-409. (Intervento presentato al convegno European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) tenutosi a Munich (D), 11-13 settembre 2007 nel 11-13/09/2007) [10.1109/ESSDERC.2007.4430964].

Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories

SELMI, Luca;
2007
2007
European Solid State Device Research Conference (ESSDERC)
Munich (D), 11-13 settembre 2007
11-13/09/2007
WOS:000252831900092
2-s2.0-39549101218
406
409
Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J.
Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories / Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J.. - STAMPA. - (2007), pp. 406-409. (Intervento presentato al convegno European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) tenutosi a Munich (D), 11-13 settembre 2007 nel 11-13/09/2007) [10.1109/ESSDERC.2007.4430964].
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