Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET / Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca. - (2006), pp. 166-169. ( ESSDERC 2006 - 36th European Solid-State Device Research Conference Montreux, che 18-22/09/2006) [10.1109/ESSDER.2006.307664].

Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET

PALESTRI, Pierpaolo;SELMI, Luca
2006
2006
Inglese
ESSDERC 2006 - 36th European Solid-State Device Research Conference
Montreux, che
18-22/09/2006
WOS:000245038000037
2-s2.0-84943199928
European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
166
169
4
9781424403011
IEEE Computer Society
345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
Atti di CONVEGNO::Relazione in Atti di Convegno
273
5
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET / Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca. - (2006), pp. 166-169. ( ESSDERC 2006 - 36th European Solid-State Device Research Conference Montreux, che 18-22/09/2006) [10.1109/ESSDER.2006.307664].
none
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