Temperature Dependence of Gate and Substrate Currents in the CHE Crossover Regime / Esseni, David; Selmi, Luca; Sangiorgi, E; Bez, R; Ricco, B.. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - 16:11(1995), pp. 506-508. [10.1109/55.468282]
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