Validity of the parabolic effective mass approximation in silicon and germanium n-MOSFETs with different crystal orientations / J. L. P. J., van der Steen; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo; Selmi, Luca; R. J. E., Hueting. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 54:8(2007), pp. 1843-1851. [10.1109/TED.2007.900417]
Validity of the parabolic effective mass approximation in silicon and germanium n-MOSFETs with different crystal orientations
SELMI, Luca;
2007-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
04277987.pdf
Accesso riservato
Dimensione
379.81 kB
Formato
Adobe PDF
|
379.81 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris