Experimental Extraction of Charge Centroid and of Charge Type in the P/E operation of SONOS Memory Cells / Arreghini, Antonio; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; Van Duuren, M. J.; Van Schaijk, R.. - (2006), pp. 499-502. ( 2006 International Electron Devices Meeting, IEDM San Francisco, CA, usa 11-13/12/2006) [10.1109/IEDM.2006.346823].
Experimental Extraction of Charge Centroid and of Charge Type in the P/E operation of SONOS Memory Cells
SELMI, Luca;
2006
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
iedm06.pdf
Accesso riservato
Dimensione
146.14 kB
Formato
Adobe PDF
|
146.14 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
