Experimental Extraction of Charge Centroid and of Charge Type in the P/E operation of SONOS Memory Cells / Arreghini, Antonio; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; VAN DUUREN, M. J.; VAN SCHAIJK, R.. - (2006), pp. 499-502. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a San Francisco (USA) dicembre 2006 nel 11-13/12/2006) [10.1109/IEDM.2006.346823].
Experimental Extraction of Charge Centroid and of Charge Type in the P/E operation of SONOS Memory Cells
SELMI, Luca;
2006-01-01
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