Measurements of Low Field Mobility in Ultra Thin SOI n- and p-MOSFETs / Mastrapasqua, M; Esseni, David; CELLER G., K; Fiegna, C; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 59:1-4(2001), pp. 409-416. [10.1016/S0167-9317(01)00631-1]
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