A Methodology to Extract the Channel Current of Permeable Gate Oxide MOSFETs / Palestri, P; Esseni, D.; Selmi, L.; Guegan, G.; Sangiorgi, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 50:5(2003), pp. 1314-1321. [10.1109/TED.2003.813245]
A Methodology to Extract the Channel Current of Permeable Gate Oxide MOSFETs
PALESTRI P;SELMI L.;
2003
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