Experimental Study of Low Voltage Anode Hole Injection in Thin Oxides / Esseni, D., Bude, J., Selmi, L.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 59:1-4(2001), pp. 55-60. (12th Biannual Conference on Insulating Films on Semi-Conductors (INFOS 2001) Udine, ita JUN 20-23, 2001) [10.1016/S0167-9317(01)00646-3].

Experimental Study of Low Voltage Anode Hole Injection in Thin Oxides

SELMI, Luca
2001
2001
Inglese
12th Biannual Conference on Insulating Films on Semi-Conductors (INFOS 2001)
Udine, ita
JUN 20-23, 2001
WOS:000172218100008
2-s2.0-0035498550
MICROELECTRONIC ENGINEERING
59
1-4
55
60
6
ELSEVIER SCIENCE BV
RADARWEG 29, 1043 NX AMSTERDAM, NETHERLANDS
oxide reliability; mechanisms of degradation; anode hole injection; oxide hole trapping; carrier separation experiments
Esseni, David; Bude, J; Selmi, Luca
Atti di CONVEGNO::Relazione in Atti di Convegno
273
3
Experimental Study of Low Voltage Anode Hole Injection in Thin Oxides / Esseni, D., Bude, J., Selmi, L.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 59:1-4(2001), pp. 55-60. (12th Biannual Conference on Insulating Films on Semi-Conductors (INFOS 2001) Udine, ita JUN 20-23, 2001) [10.1016/S0167-9317(01)00646-3].
none
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