COSTANTINI, FELIPE
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 347
AS - Asia 175
EU - Europa 119
SA - Sud America 36
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 5
AF - Africa 2
OC - Oceania 1
Totale 685
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 345
BD - Bangladesh 46
SG - Singapore 45
GB - Regno Unito 40
IT - Italia 38
CN - Cina 37
BR - Brasile 31
HK - Hong Kong 22
DE - Germania 9
TR - Turchia 8
FR - Francia 7
RU - Federazione Russa 6
VN - Vietnam 6
FI - Finlandia 5
UA - Ucraina 5
SE - Svezia 4
CL - Cile 3
KR - Corea 3
AE - Emirati Arabi Uniti 2
BG - Bulgaria 2
ID - Indonesia 2
IN - India 2
PT - Portogallo 2
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
CA - Canada 1
CH - Svizzera 1
HN - Honduras 1
JP - Giappone 1
MA - Marocco 1
SA - Arabia Saudita 1
VE - Venezuela 1
ZA - Sudafrica 1
Totale 680
Città #
Fairfield 40
Ashburn 38
Southend 28
Woodbridge 27
Singapore 25
Santa Clara 23
Hong Kong 22
Chandler 20
Wilmington 18
Ann Arbor 16
San Jose 15
Dearborn 14
Seattle 14
Houston 13
Cambridge 12
Hefei 10
Beijing 7
Jacksonville 7
Chicago 6
Florence 6
The Dalles 6
London 5
Rome 5
San Diego 5
São Paulo 5
Nyköping 4
Columbus 3
Council Bluffs 3
Helsinki 3
Izmir 3
Los Angeles 3
Moscow 3
New York 3
Seoul 3
Betim 2
Bremen 2
Buffalo 2
Charlotte 2
Chiswick 2
Dallas 2
Eugene 2
Grafing 2
Hanoi 2
Ho Chi Minh City 2
Las Vegas 2
Milan 2
Modena 2
Nanjing 2
Orem 2
Palermo 2
Princeton 2
Santiago 2
Sofia 2
Turin 2
Verona 2
Albuquerque 1
Alfenas 1
Barrie 1
Bend 1
Bitonto 1
Blumenau 1
Boardman 1
Bologna 1
Bến Tre 1
Cape Town 1
Casablanca 1
Caxias do Sul 1
Chieti 1
Conceição da Feira 1
Coquimbo 1
Douglas 1
Dracena 1
Falkenstein 1
Fiorano Modenese 1
Flint 1
Fort Worth 1
Foz do Iguaçu 1
Fuyang 1
Garanhuns 1
Guangzhou 1
Hengshui 1
Hounslow 1
Huizhou 1
Indore 1
Istanbul 1
Jeddah 1
Joinville 1
Lauterbourg 1
Leawood 1
Logan 1
Ludhiana 1
Macaé 1
Maracaju 1
Miano 1
Nova Andradina 1
Nova Friburgo 1
Numana 1
Olinda 1
Ourinhos 1
Overland Park 1
Totale 502
Nome #
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization 362
Monitoring Stress-Induced Defects in HK/MG FinFETs Using Random Telegraph Noise 323
Totale 685
Categoria #
all - tutte 2.335
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.335


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2021/202232 0 0 0 3 0 4 1 2 4 4 10 4
2022/202345 2 4 3 2 5 7 5 9 7 0 0 1
2023/202421 0 2 3 4 4 2 0 3 0 1 0 2
2024/2025126 7 1 3 10 32 25 6 9 5 3 16 9
2025/2026196 8 3 10 7 7 6 19 8 19 11 33 65
2026/202722 9 4 9 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 685