COSTANTINI, FELIPE
 Distribuzione geografica
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Continente #
NA - Nord America 329
AS - Asia 174
EU - Europa 119
SA - Sud America 36
AF - Africa 2
OC - Oceania 1
Totale 661
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Nazione #
US - Stati Uniti d'America 328
BD - Bangladesh 46
SG - Singapore 45
GB - Regno Unito 40
IT - Italia 38
CN - Cina 36
BR - Brasile 31
HK - Hong Kong 22
DE - Germania 9
TR - Turchia 8
FR - Francia 7
RU - Federazione Russa 6
VN - Vietnam 6
FI - Finlandia 5
UA - Ucraina 5
SE - Svezia 4
CL - Cile 3
KR - Corea 3
AE - Emirati Arabi Uniti 2
BG - Bulgaria 2
ID - Indonesia 2
IN - India 2
PT - Portogallo 2
AR - Argentina 1
AU - Australia 1
CH - Svizzera 1
HN - Honduras 1
JP - Giappone 1
MA - Marocco 1
SA - Arabia Saudita 1
VE - Venezuela 1
ZA - Sudafrica 1
Totale 661
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Città #
Fairfield 40
Ashburn 28
Southend 28
Woodbridge 27
Singapore 25
Santa Clara 23
Hong Kong 22
Chandler 20
Wilmington 18
Ann Arbor 16
Dearborn 14
Seattle 14
Houston 13
San Jose 13
Cambridge 12
Hefei 10
Beijing 7
Jacksonville 7
Chicago 6
Florence 6
The Dalles 6
London 5
Rome 5
San Diego 5
São Paulo 5
Nyköping 4
Helsinki 3
Izmir 3
Los Angeles 3
Moscow 3
New York 3
Seoul 3
Betim 2
Bremen 2
Buffalo 2
Chiswick 2
Columbus 2
Dallas 2
Eugene 2
Grafing 2
Hanoi 2
Ho Chi Minh City 2
Las Vegas 2
Milan 2
Modena 2
Nanjing 2
Orem 2
Palermo 2
Princeton 2
Santiago 2
Sofia 2
Turin 2
Verona 2
Albuquerque 1
Alfenas 1
Bend 1
Bitonto 1
Blumenau 1
Boardman 1
Bologna 1
Bến Tre 1
Cape Town 1
Casablanca 1
Caxias do Sul 1
Charlotte 1
Chieti 1
Conceição da Feira 1
Coquimbo 1
Council Bluffs 1
Douglas 1
Dracena 1
Falkenstein 1
Fiorano Modenese 1
Fort Worth 1
Foz do Iguaçu 1
Fuyang 1
Garanhuns 1
Guangzhou 1
Hengshui 1
Hounslow 1
Huizhou 1
Indore 1
Istanbul 1
Jeddah 1
Joinville 1
Lauterbourg 1
Leawood 1
Logan 1
Ludhiana 1
Macaé 1
Maracaju 1
Miano 1
Nova Andradina 1
Nova Friburgo 1
Numana 1
Olinda 1
Ourinhos 1
Overland Park 1
Oxnard 1
Palmeira 1
Totale 486
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Nome #
Probing defects generation during stress in high-κ/metal gate FinFETs by random telegraph noise characterization 353
Monitoring Stress-Induced Defects in HK/MG FinFETs Using Random Telegraph Noise 313
Totale 666
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Categoria #
all - tutte 2.264
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.264
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Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2021/202235 0 3 0 3 0 4 1 2 4 4 10 4
2022/202345 2 4 3 2 5 7 5 9 7 0 0 1
2023/202421 0 2 3 4 4 2 0 3 0 1 0 2
2024/2025126 7 1 3 10 32 25 6 9 5 3 16 9
2025/2026196 8 3 10 7 7 6 19 8 19 11 33 65
2026/20273 3 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 666