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Adhesion Microscopy as a Nanoscale Probe for Oxidation and Charge Generation at Metal-Oxide Interfaces 1-gen-2023 Ranjan, A.; Padovani, A.; Dianat, B.; Raghavan, N.; Pey, K. L.; O'Shea, S. J.
Channel Nanoscaling of InGaZnO TFTs and Circuits via Focused Ion Beam 1-gen-2024 Catania, F.; Scattolo, E.; Giubertoni, D.; Cian, A.; Shkodra, B.; Lugli, P.; Petti, L.; Munzenrieder, N.; Cantarella, G.
Molecular Bridges Link Monolayers of Hexagonal Boron Nitride during Dielectric Breakdown 1-gen-2023 Ranjan, A; O'Shea, Sj; Padovani, A; Su, T; La Torraca, P; Ang, Ys; Munde, Ms; Zhang, Ch; Zhang, Xx; Bosman, M; Raghavan, N; Pey, Kl
Spatially Controlled Generation and Probing of Random Telegraph Noise in Metal Nanocrystal Embedded HfO2Using Defect Nanospectroscopy 1-gen-2022 Ranjan, A.; Puglisi, F. M.; Molina-Reyes, J.; Pavan, P.; O'Shea, S. J.; Raghavan, N.; Pey, K. L.
Tunable Short-Term Plasticity Response in Three-Terminal Organic Neuromorphic Devices 1-gen-2020 Di Lauro, M.; De Salvo, A.; Sebastianella, G. C.; Bianchi, M.; Carli, S.; Murgia, M.; Fadiga, L.; Biscarini, F.
Understanding the Impact of Annealing on Interface and Border Traps in the Cr/HfO2/Al2O3/MoS2 System 1-gen-2019 Zhao, Peng; Padovani, Andrea; Bolshakov, Pavel; Khosravi, Ava; Larcher, Luca; Hurley, Paul K.; Hinkle, Christopher L.; Wallace, Robert M.; Young, Chadwin D.
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