"Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes" / Biscarini, Fabio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 71(1997), p. 888.
Data di pubblicazione: | 1997 |
Titolo: | "Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes" |
Autore/i: | Biscarini, Fabio |
Autore/i UNIMORE: | |
Rivista: | |
Volume: | 71 |
Pagina iniziale: | 888 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-0005276160 |
Citazione: | "Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes" / Biscarini, Fabio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 71(1997), p. 888. |
Tipologia | Articolo su rivista |
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