"Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes" / Biscarini, Fabio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 71:(1997), p. 888.

"Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes"

BISCARINI, FABIO
1997-01-01

1997
71
888
"Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes" / Biscarini, Fabio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 71:(1997), p. 888.
Biscarini, Fabio
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/963139
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 6
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact