The effect of cooperative electron-electron interaction on trap-limited transport is analysed.

Many-Level Trap-to-Band Transitions in Chalcogenide Memories / Rudan, Massimo; Buscemi, Fabrizio; Marcolini, Giuliano; Giovanardi, Fabio; Cappelli, Andrea; Piccinini, Enrico; Brunetti, Rossella. - STAMPA. - (2012), pp. 129-132. (Intervento presentato al convegno 2012 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices tenutosi a Denver (USA) nel sept. 5-7 2012).

Many-Level Trap-to-Band Transitions in Chalcogenide Memories

CAPPELLI, ANDREA;BRUNETTI, Rossella
2012

Abstract

The effect of cooperative electron-electron interaction on trap-limited transport is analysed.
2012
2012 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
Denver (USA)
sept. 5-7 2012
129
132
Rudan, Massimo; Buscemi, Fabrizio; Marcolini, Giuliano; Giovanardi, Fabio; Cappelli, Andrea; Piccinini, Enrico; Brunetti, Rossella
Many-Level Trap-to-Band Transitions in Chalcogenide Memories / Rudan, Massimo; Buscemi, Fabrizio; Marcolini, Giuliano; Giovanardi, Fabio; Cappelli, Andrea; Piccinini, Enrico; Brunetti, Rossella. - STAMPA. - (2012), pp. 129-132. (Intervento presentato al convegno 2012 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices tenutosi a Denver (USA) nel sept. 5-7 2012).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

Licenza Creative Commons
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/961491
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 1
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact