By measuring the reverse bias chararcteristics of Au-nSi diodes made from deformed silicon, with variable content of edge dislocations, their electronic properties are deduced

Edge Dislocation Behaviour in Au-n Silicon Diodes / Mantovani, Silverio; DEL PENNINO, Umberto. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - STAMPA. - 30:(1975), pp. 747-754.

Edge Dislocation Behaviour in Au-n Silicon Diodes

MANTOVANI, Silverio;DEL PENNINO, Umberto
1975

Abstract

By measuring the reverse bias chararcteristics of Au-nSi diodes made from deformed silicon, with variable content of edge dislocations, their electronic properties are deduced
30
747
754
Edge Dislocation Behaviour in Au-n Silicon Diodes / Mantovani, Silverio; DEL PENNINO, Umberto. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - STAMPA. - 30:(1975), pp. 747-754.
Mantovani, Silverio; DEL PENNINO, Umberto
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