A Monte Carlo study of the effects of voltage scaling on hot-electron induced effects in submicron MOSfets is presented.
Monte Carlo simulation of electron heating in scaled deep submicron MOSfets / F., Venturi; E., Sangiorgi; Brunetti, Rossella; Jacoboni, Carlo; B., Riccò. - STAMPA. - (1989), pp. 485-488. (Intervento presentato al convegno IEDM 1989 tenutosi a Washington nel 3-6 december 1989).
Monte Carlo simulation of electron heating in scaled deep submicron MOSfets
BRUNETTI, Rossella;JACOBONI, Carlo;
1989
Abstract
A Monte Carlo study of the effects of voltage scaling on hot-electron induced effects in submicron MOSfets is presented.
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