EnglishA Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness
A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness / P., Tomassini; R., Rodella; Rovati, Luigi; S., Sansoni; F., Docchio. - STAMPA. - (2000), pp. 282-290. ((Intervento presentato al convegno 1st euspen Topical Conference on Fabrication and Metrology in Nanotechnology tenutosi a Copenhagen nel Maggio.
| Data di pubblicazione: | 2000 |
| Titolo: | A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness |
| Autore/i: | P., Tomassini; R., Rodella; Rovati, Luigi; S., Sansoni; F., Docchio |
| Autore/i UNIMORE: | |
| Nome del convegno: | 1st euspen Topical Conference on Fabrication and Metrology in Nanotechnology |
| Luogo del convegno: | Copenhagen |
| Data del convegno: | Maggio |
| Pagina iniziale: | 282 |
| Pagina finale: | 290 |
| Citazione: | A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness / P., Tomassini; R., Rodella; Rovati, Luigi; S., Sansoni; F., Docchio. - STAMPA. - (2000), pp. 282-290. ((Intervento presentato al convegno 1st euspen Topical Conference on Fabrication and Metrology in Nanotechnology tenutosi a Copenhagen nel Maggio. |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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