A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness

A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness / P., Tomassini; R., Rodella; Rovati, Luigi; S., Sansoni; F., Docchio. - STAMPA. - (2000), pp. 282-290. (Intervento presentato al convegno 1st euspen Topical Conference on Fabrication and Metrology in Nanotechnology tenutosi a Copenhagen nel Maggio).

A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness

ROVATI, Luigi;
2000

Abstract

A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness
2000
1st euspen Topical Conference on Fabrication and Metrology in Nanotechnology
Copenhagen
Maggio
282
290
P., Tomassini; R., Rodella; Rovati, Luigi; S., Sansoni; F., Docchio
A Novel Optical Stylus Probe for the Measurement of Surface Roughness and Waviness / P., Tomassini; R., Rodella; Rovati, Luigi; S., Sansoni; F., Docchio. - STAMPA. - (2000), pp. 282-290. (Intervento presentato al convegno 1st euspen Topical Conference on Fabrication and Metrology in Nanotechnology tenutosi a Copenhagen nel Maggio).
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