Non linear modeling of state-of-the-art device technologiesboth bipolar and III-VFET-based.
Empirical Nonlinear Noise Models of Field Effect Devices for Microwave Circuit Large-Signal Noise Analysis / Florian, C; TRAVERSO P., A; Borgarino, Mattia; Filicori, F.. - STAMPA. - (2007), pp. 1-44. (Intervento presentato al convegno Microwave Theory and Technique Symposium tenutosi a Honolulu, USA nel 3-8 Giugno 2007 - Honolulu (HI)).
Empirical Nonlinear Noise Models of Field Effect Devices for Microwave Circuit Large-Signal Noise Analysis
BORGARINO, Mattia;
2007
Abstract
Non linear modeling of state-of-the-art device technologiesboth bipolar and III-VFET-based.
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