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An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection / Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi. - STAMPA. - -(2000), pp. ---. ((Intervento presentato al convegno Workshop on Machine Learning in Computer Vision tenutosi a Berlin, Germany nel Aug.
Data di pubblicazione: | 2000 | |
Titolo: | An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection | |
Autore/i: | Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi | |
Autore/i UNIMORE: | ||
Nome del convegno: | Workshop on Machine Learning in Computer Vision | |
Luogo del convegno: | Berlin, Germany | |
Data del convegno: | Aug | |
Volume: | - | |
Pagina iniziale: | - | |
Pagina finale: | - | |
Citazione: | An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection / Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi. - STAMPA. - -(2000), pp. ---. ((Intervento presentato al convegno Workshop on Machine Learning in Computer Vision tenutosi a Berlin, Germany nel Aug. | |
Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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