-
An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection / Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi. - STAMPA. - -:(2000), pp. ---. (Intervento presentato al convegno Workshop on Machine Learning in Computer Vision tenutosi a Berlin, Germany nel Aug).
An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection
CUCCHIARA, Rita;
2000
Abstract
-
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
