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An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection / Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi. - STAMPA. - -:(2000), pp. ---. (Intervento presentato al convegno Workshop on Machine Learning in Computer Vision tenutosi a Berlin, Germany nel Aug).
An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection
CUCCHIARA, Rita;
2000-01-01
Abstract
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