English-
An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection / Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi. - STAMPA. - -(2000), pp. ---. ((Intervento presentato al convegno Workshop on Machine Learning in Computer Vision tenutosi a Berlin, Germany nel Aug.
| Data di pubblicazione: | 2000 | |
| Titolo: | An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection | |
| Autore/i: | Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Nome del convegno: | Workshop on Machine Learning in Computer Vision | |
| Luogo del convegno: | Berlin, Germany | |
| Data del convegno: | Aug | |
| Volume: | - | |
| Pagina iniziale: | - | |
| Pagina finale: | - | |
| Citazione: | An Application of Machine Learning and Statistics to Defect Detection / Cucchiara, Rita; P., Mello; M., Piccardi; F., Riguzzi. - STAMPA. - -(2000), pp. ---. ((Intervento presentato al convegno Workshop on Machine Learning in Computer Vision tenutosi a Berlin, Germany nel Aug. | |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
Loading suggested articles...
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
Copyright © 2021