First-principle study of ß-AlN thin films on ß-SiC(001)

Di Felice, R.; Bertoni, Carlo Maria; Catellani, A.

doi:10.1063/1.123814

Abstract: We have investigated the initial stages of formation of cubic AlN films on SiC(001) by studying the energetics of possible structures. We have considered 1X1 and p(4X1) surface reconstructions for the films, and we have allowed for different interface arrangements including atomic mixing. The results of our first-principles calculations reveal that, in N-rich conditions, no two-dimensional film structure is stable. However, in Al-rich conditions, it is possible to stabilize a thick wetting layer of cubic AlN provided the proper interface mixing is achieved. The most stable AlN film exhibits a p(4X1) surface reconstruction. (C) 1999 American Institute of Physics.

First-principle study of ß-AlN thin films on ß-SiC(001) / R., DI FELICE; Bertoni, Carlo Maria; A., Catellani. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - STAMPA. - 74(1999), pp. 2137-2139. [10.1063/1.123814]

Data di pubblicazione:	1999
Titolo:	First-principle study of ß-AlN thin films on ß-SiC(001)
Autore/i:	R., DI FELICE; Bertoni, Carlo Maria; A., Catellani
Autore/i UNIMORE:	R. DI FELICE BERTONI, Carlo Maria A. CATELLANI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Digital Object Identifier (DOI):	http://dx.doi.org/10.1063/1.123814
Rivista:	APPLIED PHYSICS LETTERS
Volume:	74
Pagina iniziale:	2137
Pagina finale:	2139
Codice identificativo ISI:	WOS:000079583000012
Codice identificativo Scopus:	2-s2.0-0032621868
Citazione:	First-principle study of ß-AlN thin films on ß-SiC(001) / R., DI FELICE; Bertoni, Carlo Maria; A., Catellani. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - STAMPA. - 74(1999), pp. 2137-2139. [10.1063/1.123814]
Tipologia	Articolo su rivista

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