The recursive description of stacking in layered crystals, originally developed by Treacy et al. [Proc. R. Soc. London Ser. A (1991), 433, 499-520] and implemented in the DIFFaX code, is enclosed in a non-linear least-squares minimization routine and combined with additional models (of specimen-related broadening and instrumental broadening) to allow the simultaneous refinement of both structural and microstructural parameters of a layered crystal. This implementation is named DIFFaX+. As examples, the refinements both of a simulated pattern of diamond, showing fault clustering, and of the observed powder pattern of a synthetic stoichiometric nanocrystalline chrysotile are reported.
Simultaneous refinement of structure and microstructure of layered materials / M., Leoni; Gualtieri, Alessandro; N., Roveri. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - STAMPA. - 37(2004), pp. 166-173.
Data di pubblicazione: | 2004 |
Titolo: | Simultaneous refinement of structure and microstructure of layered materials |
Autore/i: | M., Leoni; Gualtieri, Alessandro; N., Roveri |
Autore/i UNIMORE: | |
Rivista: | |
Volume: | 37 |
Pagina iniziale: | 166 |
Pagina finale: | 173 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000188225100026 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-3042847746 |
Citazione: | Simultaneous refinement of structure and microstructure of layered materials / M., Leoni; Gualtieri, Alessandro; N., Roveri. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - STAMPA. - 37(2004), pp. 166-173. |
Tipologia | Articolo su rivista |
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