Characterization and TCAD modelling of diamond Schottky barrier diodes as test structures for the development of a high-power electronics technology

Bassaler, Julien; Biasin, Giacomo; Buffolo, Matteo; Chini, Alessandro; Carlo De Santi,; Manuelfregolent,; Letellier, Juliette; Maurya, Vishwajeet; Meneghini, Matteo; Verzellesi, Giovanni

Characterization and TCAD modelling of diamond Schottky barrier diodes as test structures for the development of a high-power electronics technology / Bassaler, J., Biasin, G., Buffolo, M., Chini, A., De Santi, C., Manuelfregolent, ., Letellier, J., Maurya, V., Meneghini, M., Verzellesi, G.. - (2025). (35th International Conference on Diamond and Carbon Materials (ICDCM 2025) Glasgow (UK) 31/8/25-4/9/25).

Characterization and TCAD modelling of diamond Schottky barrier diodes as test structures for the development of a high-power electronics technology

Julien Bassaler;Giacomo Biasin;Matteo Buffolo;Alessandro Chini;Carlo De Santi;ManuelFregolent;Juliette Letellier;Vishwajeet Maurya;Matteo Meneghini;Giovanni Verzellesi

2025

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione
	
				2025
			
	Titolo del Convegno
	
				35th International Conference on Diamond and Carbon Materials (ICDCM 2025)
			
	Luogo del Convegno
	
				Glasgow (UK)
			
	Data del Convegno
	
				31/8/25-4/9/25
			
	Tutti gli autori
	
						Bassaler, Julien; Biasin, Giacomo; Buffolo, Matteo; Chini, Alessandro; De Santi, Carlo; Manuelfregolent, ; Letellier, Juliette; Maurya, Vishwajeet; Me...espandi
						
	Citazione
	
				Characterization and TCAD modelling of diamond Schottky barrier diodes as test structures for the development of a high-power electronics technology / Bassaler, J., Biasin, G., Buffolo, M., Chini, A., De Santi, C., Manuelfregolent, ., Letellier, J., Maurya, V., Meneghini, M., Verzellesi, G.. - (2025). (35th International Conference on Diamond and Carbon Materials (ICDCM 2025) Glasgow (UK) 31/8/25-4/9/25).
			
	Tipologia
	
				Abstract in Atti di Convegno

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