Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
Amplitude analysis of B0 → D ¯ 0 Ds+ π- and B+ →D- Ds+ π+ decays / Aaij, R.; Abdelmotteleb, A. S. W.; Abellan Beteta, C.; Abudinén, F.; Ackernley, T.; Adeva, B.; Adinolfi, M.; Adlarson, P.; Afsharnia, H.; Agapopoulou, C.; Aidala, C. A.; Aiola, S.; Ajaltouni, Z.; Akar, S.; Akiba, K.; Albrecht, J.; Alessio, F.; Alexander, M.; Alfonso Albero, A.; Aliouche, Z.; Alvarez Cartelle, P.; Amalric, R.; Amato, S.; Amey, J. L.; Amhis, Y.; An, L.; Anderlini, L.; Andersson, M.; Andreianov, A.; Andreotti, M.; Andreou, D.; Ao, D.; Archilli, F.; Artamonov, A.; Artuso, M.; Aslanides, E.; Atzeni, M.; Audurier, B.; Bachmann, S.; Bachmayer, M.; Back, J. J.; Bailly-Reyre, A.; Baladron Rodriguez, P.; Balagura, V.; Baldini, W.; Baptista De Souza Leite, J.; Barbetti, M.; Barlow, R. J.; Barsuk, S.; Barter, W.; Bartolini, M.; Baryshnikov, F.; Basels, J. M.; Bassi, G.; Batsukh, B.; Battig, A.; Bay, A.; Beck, A.; Becker, M.; Bedeschi, F.; Bediaga, I. B.; Beiter, A.; Belavin, V.; Belin, S.; Bellee, V.; Belous, K.; Belov, I.; Belyaev, I.; Benane, G.; Bencivenni, G.; Ben-Haim, E.; Berezhnoy, A.; Bernet, R.; Bernet Andres, S.; Berninghoff, D.; Bernstein, H. C.; Bertella, C.; Bertolin, A.; Betancourt, C.; Betti, F.; Bezshyiko, I.; Bhasin, S.; Bhom, J.; Bian, L.; Bieker, M. S.; Biesuz, N. V.; Bifani, S.; Billoir, P.; Biolchini, A.; Birch, M.; Bishop, F. C. R.; Bitadze, A.; Bizzeti, A.; Blago, M. P.; Blake, T.; Blanc, F.; Blank, J. E.; Blusk, S.; Bobulska, D.; Boelhauve, J. A.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - 108:1(2023), pp. 0-0. [10.1103/PhysRevD.108.012017]
Amplitude analysis of B0 → D ¯ 0 Ds+ π- and B+ →D- Ds+ π+ decays
Aaij R.;Abdelmotteleb A. S. W.;Abellan Beteta C.;Abudinén F.;Ackernley T.;Adeva B.;Adinolfi M.;Adlarson P.;Afsharnia H.;Agapopoulou C.;Aidala C. A.;Aiola S.;Ajaltouni Z.;Akar S.;Akiba K.;Albrecht J.;Alessio F.;Alexander M.;Alfonso Albero A.;Aliouche Z.;Alvarez Cartelle P.;Amalric R.;Amato S.;Amey J. L.;Amhis Y.;An L.;Anderlini L.;Andersson M.;Andreianov A.;Andreotti M.;Andreou D.;Ao D.;Archilli F.;Artamonov A.;Artuso M.;Aslanides E.;Atzeni M.;Audurier B.;Bachmann S.;Bachmayer M.;Back J. J.;Bailly-Reyre A.;Baladron Rodriguez P.;Balagura V.;Baldini W.;Baptista De Souza Leite J.;Barbetti M.;Barlow R. J.;Barsuk S.;Barter W.;Bartolini M.;Baryshnikov F.;Basels J. M.;Bassi G.;Batsukh B.;Battig A.;Bay A.;Beck A.;Becker M.;Bedeschi F.;Bediaga I. B.;Beiter A.;Belavin V.;Belin S.;Bellee V.;Belous K.;Belov I.;Belyaev I.;Benane G.;Bencivenni G.;Ben-Haim E.;Berezhnoy A.;Bernet R.;Bernet Andres S.;Berninghoff D.;Bernstein H. C.;Bertella C.;Bertolin A.;Betancourt C.;Betti F.;Bezshyiko I.;Bhasin S.;Bhom J.;Bian L.;Bieker M. S.;Biesuz N. V.;Bifani S.;Billoir P.;Biolchini A.;Birch M.;Bishop F. C. R.;Bitadze A.;Bizzeti A.;Blago M. P.;Blake T.;Blanc F.;Blank J. E.;Blusk S.;Bobulska D.;Boelhauve J. A.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11380/1353332
Citazioni
ND
32
29
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. L’Università di Modena e Reggio Emilia non si assume alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione.