Compact expression to model the effects of dielectric absorption on analog-to-digital converters / Saro, S.; Palestri, P.; Caruso, E.; Toniutti, P.; Calabro, R.; Terokhin, S.; Driussi, F.. - (2024). (Intervento presentato al convegno 36th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2024 tenutosi a Edinburgh, ENGLAND nel APR 15-18, 2024) [10.1109/ICMTS59902.2024.10520681].
Compact expression to model the effects of dielectric absorption on analog-to-digital converters
Palestri P.;
2024
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Saro_ICMTS_24.pdf
Accesso riservato
Tipologia:
Versione pubblicata dall'editore
Dimensione
1.19 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.19 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
