Compact expression to model the effects of dielectric absorption on analog-to-digital converters / Saro, S.; Palestri, P.; Caruso, E.; Toniutti, P.; Calabro, R.; Terokhin, S.; Driussi, F.. - (2024). (Intervento presentato al convegno 36th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2024 tenutosi a edimburgo (UK) nel april 2024) [10.1109/ICMTS59902.2024.10520681].

Compact expression to model the effects of dielectric absorption on analog-to-digital converters

Palestri P.;
2024

2024
36th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2024
edimburgo (UK)
april 2024
Saro, S.; Palestri, P.; Caruso, E.; Toniutti, P.; Calabro, R.; Terokhin, S.; Driussi, F.
Compact expression to model the effects of dielectric absorption on analog-to-digital converters / Saro, S.; Palestri, P.; Caruso, E.; Toniutti, P.; Calabro, R.; Terokhin, S.; Driussi, F.. - (2024). (Intervento presentato al convegno 36th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2024 tenutosi a edimburgo (UK) nel april 2024) [10.1109/ICMTS59902.2024.10520681].
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