Temperature Effect on RON-degradation induced by Off-state Drain Voltage Stress / Cioni, M.; Giorgino, G.; Cappellini, G.; Chini, A.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.. - (2023). (Intervento presentato al convegno 46th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe & 17th Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies (WOCSDICE-EXMATEC 2023) tenutosi a Palermo (Italy) nel 21-25 May 2023).

Temperature Effect on RON-degradation induced by Off-state Drain Voltage Stress

G. Giorgino;A. Chini;
2023

2023
46th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe & 17th Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies (WOCSDICE-EXMATEC 2023)
Palermo (Italy)
21-25 May 2023
Cioni, M.; Giorgino, G.; Cappellini, G.; Chini, A.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.
Temperature Effect on RON-degradation induced by Off-state Drain Voltage Stress / Cioni, M.; Giorgino, G.; Cappellini, G.; Chini, A.; Miccoli, C.; Castagna, M. E.; Moschetti, M.; Tringali, C.; Iucolano, F.. - (2023). (Intervento presentato al convegno 46th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe & 17th Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies (WOCSDICE-EXMATEC 2023) tenutosi a Palermo (Italy) nel 21-25 May 2023).
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