Assessing risk of bias and applicability / Reitsma, J.B., Rutjes, A.W.S., Whiting, P., Yang, B., Leeflang, M.M., Bossuyt, P.M., Deeks, J.J. - In: Assessing risk of bias and applicability[s.l] : John Wiley and Sons Ltd., 2023. - ISBN 9781119756194. - pp. 169-201 [10.1002/9781119756194.ch8]

Assessing risk of bias and applicability

Rutjes Anne Wilhelmina Saskia
Writing – Original Draft Preparation
;
2023
2023
2-s2.0-85168371994
Assessing risk of bias and applicability
9781119756194
John Wiley and Sons Ltd.
Assessing risk of bias and applicability / Reitsma, J.B., Rutjes, A.W.S., Whiting, P., Yang, B., Leeflang, M.M., Bossuyt, P.M., Deeks, J.J. - In: Assessing risk of bias and applicability[s.l] : John Wiley and Sons Ltd., 2023. - ISBN 9781119756194. - pp. 169-201 [10.1002/9781119756194.ch8]
Reitsma, J. B.; Rutjes, Anne Wilhelmina Saskia; Whiting, P.; Yang, B.; Leeflang, M. M.; Bossuyt, P. M.; Deeks, J. J.
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