Microscopic scale characterization and modeling of transistor degradation under HC stress / Mamy Randriamihaja, Y; Huard, V; Federspiel, X; Zaka, A; Palestri, Pierpaolo; Rideau, D; Roy, D; Bravaix, A.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 52:11(2012), pp. 2513-2520. [10.1016/j.microrel.2012.04.005]
Microscopic scale characterization and modeling of transistor degradation under HC stress
PALESTRI, Pierpaolo;
2012
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