Strained Silicon Complementary TFET SRAM: Experimental Demonstration and Simulations / Luong, G.V., Strangio, S., Tiedemann, A.T., Bernardy, P., Trellenkamp, S., Palestri, P., Mantl, S., Zhao, Q.T.. - In: IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY. - ISSN 2168-6734. - 6:1(2018), pp. 1033-1040. [10.1109/JEDS.2018.2825639]
Strained Silicon Complementary TFET SRAM: Experimental Demonstration and Simulations
Palestri, P.;
2018
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