Strained Silicon Complementary TFET SRAM: Experimental Demonstration and Simulations / Luong, G. V.; Strangio, S.; Tiedemann, A. T.; Bernardy, P.; Trellenkamp, S.; Palestri, P.; Mantl, S.; Zhao, Q. T.. - In: IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY. - ISSN 2168-6734. - 6:1(2018), pp. 1033-1040. [10.1109/JEDS.2018.2825639]
Strained Silicon Complementary TFET SRAM: Experimental Demonstration and Simulations
Palestri, P.;
2018
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