X-ray powder diffraction quantitative analysis performed in situ at high temperature

Mazzucato, E.; Gualtieri, A. F.; Venturelli, P.; Viani, A.

X-ray powder diffraction quantitative analysis performed in situ at high temperature / Mazzucato, E.; Gualtieri, A. F.; Venturelli, P.; Viani, A.. - (1999). (Intervento presentato al convegno XVIIIth IUCr Congress & General Assembly tenutosi a Glasgow, Scotland nel 4-13 August 1999).

X-ray powder diffraction quantitative analysis performed in situ at high temperature

Mazzucato E.;Gualtieri A. F.;Venturelli P.;Viani A.

1999

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	Anno di pubblicazione
	
				1999
			
	Titolo del Convegno
	
				XVIIIth IUCr Congress & General Assembly
			
	Luogo del Convegno
	
				Glasgow, Scotland
			
	Data del Convegno
	
				4-13 August 1999
			
	Tutti gli autori
	
						Mazzucato, E.; Gualtieri, A. F.; Venturelli, P.; Viani, A.
					
	Citazione
	
				X-ray powder diffraction quantitative analysis performed in situ at high temperature / Mazzucato, E.; Gualtieri, A. F.; Venturelli, P.; Viani, A.. - (1999). (Intervento presentato al  convegno XVIIIth IUCr Congress & General Assembly tenutosi a Glasgow, Scotland nel 4-13 August 1999).
			
	Tipologia
	
				Abstract in Atti di Convegno

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