MAZZUCATO, Edoardo
MAZZUCATO, Edoardo
Dip. SCIENZE DELLA TERRA (attivo dal 01/01/1900 al 29/06/2012)
Mineralogical quantitative phase analysis using the rietveld method. Applications to problems of interest for ceramic industry
1999 Viani, A.; Gualtieri, A. F.; Mazzucato, E.; Venturelli, P.
The K± → π±π0e+e− decay: First observation and study with the NA48/2 experiment at CERN
2019 Anzivino, G.; Anzivino, G.; Arcidiacono, R.; Baldini, W.; Balev, S.; Batley, J. R.; Behler, M.; Bifani, S.; Biino, C.; Bizzeti, A.; Bloch-Devaux, B.; Bocquet, G.; Cabibbo, N.; Calvetti, M.; Cartiglia, N.; Ceccucci, A.; Celeghini, E.; Cenci, P.; Cerri, C.; Cheshkov, C.; Cheze, J. B.; Clemencic, M.; Collazuol, G.; Costantini, F.; Cotta Ra-Musino, A.; Coward, D.; Cundy, D.; Dabrowski, A.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; de Beer, M.; Derre, J.; Dibon, H.; Dilella, L.; Doble, N.; Eppard, K.; Falaleev, V.; Fantechi, R.; Fidecaro, M.; Fiorini, L.; Fiorini, M.; Fonseca Martin, T.; Frabetti, P. L.; Gatignon, L.; Gersabeck, E.; Gianoli, A.; Giudici, S.; Gonidec, A.; Goudzovski, E.; Goy Lopez, S.; Hita-Hochgesand, M.; Holder, M.; Hristov, P.; Iacopini, E.; Imbergamo, E.; Jeitler, M.; Kalmus, G.; Kekelidze, V.; Kleinknecht, K.; Kozhuharov, V.; Kubischta, W.; Lamanna, G.; Lazzeroni, C.; Lenti, M.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Maier, A.; Mannelli, I.; Marchetto, F.; Marel, G.; Markytan, M.; Marouelli, P.; Martini, M.; Masetti, L.; Mazzucato, E.; Michetti, A.; Mikulec, I.; Misheva, M.; Molokanova, N.; Monnier, E.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Munday, D. J.; Nappi, A.; Neuhofer, G.; Norton, A.; Patel, M.; Pepe, M.; Peters, A.; Petrucci, F.; Petrucci, M. C.; Peyaud, B.; Piccini, M.; Pierazzini, G.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Yu.; Raggi, M.; Renk, B.; Rubin, P.; Ruggiero, G.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Shieh, M.; Slater, M. W.; Sozzi, M.; Stoynev, S.; Swallow, E.; Szleper, M.; Valdata-Nappi, M.; Vallage, M.; Velasco, M.; Veltri, M.; Venditti, S.; Wache, M.; Wahl, H.; Walker, A.; Wanke, R.; Widhalm, L.; Winhart, A.; Winston, R.; Wood, M. D.; Wotton, S. A.; Zinchenko, A.; Ziolkowski, M.
X-ray powder diffraction quantitative analysis performed in situ at high temperature
1999 Mazzucato, E.; Gualtieri, A. F.; Venturelli, P.; Viani, A.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Mineralogical quantitative phase analysis using the rietveld method. Applications to problems of interest for ceramic industry | 1-gen-1999 | Viani, A.; Gualtieri, A. F.; Mazzucato, E.; Venturelli, P. | |
The K± → π±π0e+e− decay: First observation and study with the NA48/2 experiment at CERN | 1-gen-2019 | Anzivino, G.; Anzivino, G.; Arcidiacono, R.; Baldini, W.; Balev, S.; Batley, J. R.; Behler, M.; Bifani, S.; Biino, C.; Bizzeti, A.; Bloch-Devaux, B.; Bocquet, G.; Cabibbo, N.; Calvetti, M.; Cartiglia, N.; Ceccucci, A.; Celeghini, E.; Cenci, P.; Cerri, C.; Cheshkov, C.; Cheze, J. B.; Clemencic, M.; Collazuol, G.; Costantini, F.; Cotta Ra-Musino, A.; Coward, D.; Cundy, D.; Dabrowski, A.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; de Beer, M.; Derre, J.; Dibon, H.; Dilella, L.; Doble, N.; Eppard, K.; Falaleev, V.; Fantechi, R.; Fidecaro, M.; Fiorini, L.; Fiorini, M.; Fonseca Martin, T.; Frabetti, P. L.; Gatignon, L.; Gersabeck, E.; Gianoli, A.; Giudici, S.; Gonidec, A.; Goudzovski, E.; Goy Lopez, S.; Hita-Hochgesand, M.; Holder, M.; Hristov, P.; Iacopini, E.; Imbergamo, E.; Jeitler, M.; Kalmus, G.; Kekelidze, V.; Kleinknecht, K.; Kozhuharov, V.; Kubischta, W.; Lamanna, G.; Lazzeroni, C.; Lenti, M.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Maier, A.; Mannelli, I.; Marchetto, F.; Marel, G.; Markytan, M.; Marouelli, P.; Martini, M.; Masetti, L.; Mazzucato, E.; Michetti, A.; Mikulec, I.; Misheva, M.; Molokanova, N.; Monnier, E.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Munday, D. J.; Nappi, A.; Neuhofer, G.; Norton, A.; Patel, M.; Pepe, M.; Peters, A.; Petrucci, F.; Petrucci, M. C.; Peyaud, B.; Piccini, M.; Pierazzini, G.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Yu.; Raggi, M.; Renk, B.; Rubin, P.; Ruggiero, G.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Shieh, M.; Slater, M. W.; Sozzi, M.; Stoynev, S.; Swallow, E.; Szleper, M.; Valdata-Nappi, M.; Vallage, M.; Velasco, M.; Veltri, M.; Venditti, S.; Wache, M.; Wahl, H.; Walker, A.; Wanke, R.; Widhalm, L.; Winhart, A.; Winston, R.; Wood, M. D.; Wotton, S. A.; Zinchenko, A.; Ziolkowski, M. | |
X-ray powder diffraction quantitative analysis performed in situ at high temperature | 1-gen-1999 | Mazzucato, E.; Gualtieri, A. F.; Venturelli, P.; Viani, A. |