N/A
Atomic Force Microscopy on Molecular Thin Films: Rubbing of Teflon Oligomers / Lauria, A.; Biscarini, F.; Taliani, C.. - STAMPA. - (1995), pp. 405-405. (Intervento presentato al convegno XX Congresso di Microscopia Elettronica SIME tenutosi a Rimini nel 11-14/9/1995).
Atomic Force Microscopy on Molecular Thin Films: Rubbing of Teflon Oligomers
Biscarini F.
Writing – Original Draft Preparation
;
1995
Abstract
N/AFile in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris