Electron Beam-Induced Charging and Modifications of Thin Films / Malac, M.; Beleggia, M.; Rowan, T.; Egerton, R.; Kawasaki, M.; Okura, Y.; Mcleod, R. A.. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1431-9276. - 21:3(2015), pp. 1385-1387. [10.1017/S1431927615007710]
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