Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy / Zhu, Y; Beetz, T; Wu, L; Klie, R F; Huang, L; Lau, J W; Schofield, M A; Volkov, V V; Beleggia, M; Malac, M. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 12:Suppl. 2(2006), pp. 540-541. (Intervento presentato al convegno Microscopy and Microanalysis 2006 tenutosi a Chicago, Illinois, USA nel July 30 – August 3, 2005) [10.1017/S143192760606925X].

Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy

Beleggia M;
2006
2006
Microscopy and Microanalysis 2006
Chicago, Illinois, USA
July 30 – August 3, 2005
2-s2.0-33750872818
12
540
541
Zhu, Y; Beetz, T; Wu, L; Klie, R F; Huang, L; Lau, J W; Schofield, M A; Volkov, V V; Beleggia, M; Malac, M
Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy / Zhu, Y; Beetz, T; Wu, L; Klie, R F; Huang, L; Lau, J W; Schofield, M A; Volkov, V V; Beleggia, M; Malac, M. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 12:Suppl. 2(2006), pp. 540-541. (Intervento presentato al convegno Microscopy and Microanalysis 2006 tenutosi a Chicago, Illinois, USA nel July 30 – August 3, 2005) [10.1017/S143192760606925X].
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