Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy / Zhu, Y., Beetz, T., Wu, L., Klie, R.F., Huang, L., Lau, J.W., Schofield, M.A., Volkov, V.V., Beleggia, M., Malac, M.. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 12:Suppl. 2(2006), pp. 540-541. (Microscopy and Microanalysis 2006 Chicago, Illinois, USA July 30 – August 3, 2005) [10.1017/S143192760606925X].
Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy
Beleggia M;
2006
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