Electron Holography and Micromagnetic Simulations for TEM magnetization mapping / Beleggia, M; Schofield, M; Zhu, Y; Malac, M; Liu, Z; Freeman, M. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 9:2(2003), pp. 778-779. [10.1017/s1431927603443894]
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