Measurement of Charge at Grain-Boundary Edge Dislocations in Ca-doped and Undoped YBCO by Electron Holography / Schofield, M A; Beleggia, M; Zhu, Y; Guth, K; Jooss, Ch. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 9:2(2003), pp. 784-785. [10.1017/s1431927603443924]
Measurement of Charge at Grain-Boundary Edge Dislocations in Ca-doped and Undoped YBCO by Electron Holography
Beleggia M;
2003
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris
