A Machine Learning Approach for a Vision-Based Van-Herick Measurement System / Fedullo, Tommaso; Cassanelli, Davide; Gibertoni, Giovanni; Tramarin, Federico; Quaranta, Luciano; de Angelis, Giovanni; Rovati, Luigi. - 2021-May:(2021), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2021 tenutosi a Glasgow, United Kingdom nel 17-20 May 2021) [10.1109/I2MTC50364.2021.9459946].
A Machine Learning Approach for a Vision-Based Van-Herick Measurement System
Cassanelli, Davide;Gibertoni, Giovanni;Tramarin, Federico;Rovati, Luigi
2021
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