CMOS and interconnect reliability-non-volatile memory reliability / Visconti, A.; Larcher, L.. - (2006), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno 2006 International Electron Devices Meeting, IEDM tenutosi a San Francisco, CA, usa nel 2006) [10.1109/IEDM.2006.346817].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I metadati presenti in IRIS UNIMORE sono rilasciati con licenza Creative Commons CC0 1.0 Universal, mentre i file delle pubblicazioni sono rilasciati con licenza Attribuzione 4.0 Internazionale (CC BY 4.0), salvo diversa indicazione.
In caso di violazione di copyright, contattare Supporto Iris