EnglishCMOS and interconnect reliability-non-volatile memory reliability / Visconti, A.; Larcher, L.. - (2006), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno 2006 International Electron Devices Meeting, IEDM tenutosi a San Francisco, CA, usa nel 2006 [10.1109/IEDM.2006.346817].
| Data di pubblicazione: | 2006 | |
| Titolo: | CMOS and interconnect reliability-non-volatile memory reliability | |
| Autore/i: | Visconti, A.; Larcher, L. | |
| Autore/i UNIMORE: | ||
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2006.346817 | |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-46049095088 | |
| Nome del convegno: | 2006 International Electron Devices Meeting, IEDM | |
| Luogo del convegno: | San Francisco, CA, usa | |
| Data del convegno: | 2006 | |
| Pagina iniziale: | 1 | |
| Pagina finale: | 1 | |
| Citazione: | CMOS and interconnect reliability-non-volatile memory reliability / Visconti, A.; Larcher, L.. - (2006), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno 2006 International Electron Devices Meeting, IEDM tenutosi a San Francisco, CA, usa nel 2006 [10.1109/IEDM.2006.346817]. | |
| Tipologia | Relazione in Atti di Convegno |
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