Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires / Tikhonov, E.S., Shovkun, D.V., Ercolani, D., Rossella, F., Rocci, M., Sorba, L., Roddaro, S., Khrapai, V.S.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 31:10(2016), p. 104001. [10.1088/0268-1242/31/10/104001]
Noise thermometry applied to thermoelectric measurements in InAs nanowires
ERCOLANI, Daniele;ROSSELLA, FRANCESCO;SORBA, LUCIA;
2016
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