Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography / David, Jérémy; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Gemmi, Mauro; Ercolani, Daniele; Sorba, Lucia; Beltram, Fabio; Roddaro, Stefano. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS AND ADVANCES. - ISSN 2053-2733. - 72:a1(2016), pp. s328-s328. [10.1107/S2053273316095115]

Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography

Rossella Francesco;Ercolani Daniele;Sorba Lucia;
2016
2016
72
a1
s328
s328
WOS:000480364000489
Ni-rich phases identification in GaAs nanowire devices by mean of electron diffraction tomography / David, Jérémy; Rossella, Francesco; Rocci, Mirko; Gemmi, Mauro; Ercolani, Daniele; Sorba, Lucia; Beltram, Fabio; Roddaro, Stefano. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS AND ADVANCES. - ISSN 2053-2733. - 72:a1(2016), pp. s328-s328. [10.1107/S2053273316095115]
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